薄膜的晶界与层错_外观瑕疵

吹膜时可能有膜卷漏掉电晕处理的；膜厚度过大或不均匀引起电晕效果不够(外观检测)；吹膜是加入太多的爽滑剂或高爽滑粒料比例过大引起电晕效果大幅度下降。12~15umPET膜出现两面的电晕效果相差不大时，容易引发印刷膜卷背粘故障。印刷膜的电晕要求：BOPP，PE≥38达因，PET≥50达因，NY≥52达因。NY膜吸水后并不会对电晕效果产生较大影响，判断NY膜是否吸水看膜有无收缩起趋现象，剪一张膜放进烘箱几个小时，手感是否发硬，如果有起趋，发硬等现象，则该NY膜吸水过多

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1．晶界

和块状材料相似，薄膜中各晶粒之间由于相对取向的不同，而出现了接触界面，即通常所谓的晶界，因此品界是把结构相同但位向不同的两个晶粒分隔开来的一个面缺陷。

2．层错

所谓层错就是在薄膜的生长过程中由于晶面的正常堆垛次序遭到破坏而出现的晶格缺陷。而心立方晶体中｛表面检测｝面两种基本类型的层错可以表示为

．．．ABC AC ABC．．．

．．．ABC ACBC ABC．．．

前者相当于从正常准垛次序小抽掉一层晶面，因而称为抽出型层错；后养相当于个正常堆垛次序中加入一层额外的晶面，因而称为插入型层错。堆垛层错破坏了晶体的完整性，引起晶体能量的升高。与单位面积堆垛层错相联系的能至称为层错能。层错仅仅破坏了原子的次邻近关系，并没有破坏原子的至邻近关系，亦即左层错处只有从连续二层原子的关系才能发现与正常堆垛次序的差别；如果仅仅取出相邻的两层原子来看，就不存在“错误”。因此与至邻近原子又系受到破坏的一般晶界能比较起来，层错能要小得多。

薄膜的厚度是一个重要的参数。一般而言，厚度有三种概念即几何厚度、光学厚度和质量厚度。几何厚度指膜层的物理厚度。

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